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| JMS-700（JEOL） |
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| JMS-700（JEOL） |
高真空下、試料を種々のイオン化法によりイオン化し、生じた分子イオン・フラグメントイオンの質量を測定する装置。
| （EI法） | |
| ・ | 加熱気化させた試料に熱電子をあててイオン化する方法。 |
| ・ | 難揮発性化合物、熱に不安定な化合物、フラグメンテーションしやすい化合物の測定は困難。 |
| （FAB法） | |
| ・ | 試料をmatrixに溶解し、高速中性粒子で試料を衝撃することによりイオン化する方法。 |
| ・ | 難揮発性化合物、熱に不安定な化合物、高分子化合物の測定に有効。 |
申込方法（学内のみ）
申込用紙（学内のみ）
